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  • 手持式X荧光光谱仪 手持式X荧光光谱仪

    手持式X荧光光谱仪S1 TITAN重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。

  • 科研手持XRF光谱仪 科研手持XRF光谱仪

    TRACER 5g科研手持XRF光谱仪采用了一个带有1μm石墨烯窗口的新探测器,石墨烯窗口取代了传统的8μm铍窗口

  • 微区X射线荧光光谱仪 微区X射线荧光光谱仪

    微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。

  • TXRF全反射X射线荧光光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪

    TXRF全反射X射线荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。

  • 微区X射线荧光成像光谱仪PLUS 微区X射线荧光成像光谱仪PLUS

    M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS是能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。

  • 便携台式xrf分析仪 便携台式xrf分析仪

    便携式XRF分析仪适用于在实验室外检测固体、粉末和液体。

  • 手持式土壤重金属分析仪 手持式土壤重金属分析仪

    手持式土壤重金属分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb(铅),As(砷),Cd(镉),Hg(汞),Cu(铜),Ni(镍),Zn(锌),Cr(铬)等有害元素,能够实时对厂区、矿区、重工业区周.....

  • 探针式轮廓仪系统 探针式轮廓仪系统

    新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。

  • 台阶仪-表面轮廓仪 台阶仪-表面轮廓仪

    德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。

  • 光学轮廓仪 光学轮廓仪

    ContourGT-X是实验室开发到批量生产均可适用的仪器。

  • 3D扫描仪 MICRON3D green 3D扫描仪 MICRON3D green

    MICRON3D扫描机的开发和完善花费了两年多的时间,让我们能够充分研究这种3D扫描仪的每个细节。我们的设计师根据扫描仪用户的调查问卷精心制定了3D扫描机的基本要求。

  • 薄膜厚度 薄膜厚度

    薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。

  • 反射膜厚仪 反射膜厚仪

    反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。

  • Dimension FastScan Dimension FastScan

    扫描速度快、分辨率高的的原子力显微镜Dimension FastScan

  • 热重差热分析仪 热重差热分析仪

    热重差热分析仪是材料科学的一个分支。分析技术包括热重分析(TG)、差热分析法(DTA)、差示扫描量热法(DSC)和热-力法或热机械分析(TMA)。

  • I-V 曲线测试仪 I-V 曲线测试仪

    PV200为光伏系统提供了一个测试及诊断解决方案

  • 电荷灵敏前置放大器 电荷灵敏前置放大器

    CUBE(立方)是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器,借助外部电阻器,也可以以连续复位模式运行。

  • 原子力显微镜探针/AFM探针 原子力显微镜探针/AFM探针

    原子力显微镜探针(AFM探针),是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。在表面科学、纳米技术领域、生物电子等领域,逐渐发展成为重要的、多功能材的材料表征工

  • 涂层测厚仪 涂层测厚仪

    涂层测厚仪应用范围广泛:它们是检查进货部门所交付材料的理想工具。

  • 涂层测厚仪SURFIX?X系列 涂层测厚仪SURFIX?X系列

    先进的测量仪器: 彩屏, PC 连接,易操作, 以及适合PHYNIX探头。

  • 涂层测厚仪SURFIX?系列 涂层测厚仪SURFIX?系列

    用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀涂层的测量

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【邀请函】布鲁克手持式光谱仪会议?清河站 2021-04-15

会议时间:2021年4月28日 (周三) 14:00—19:00会议地点:河北省邢台市清河县渤海路1号 亿力大厦一楼大厅

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